DUSSAN, A.; SCHMIDT, J. A.; ARCE, R. D.; KOROPECKI, R. R. DETERMINACIÓN DE LA DENSIDAD DE DEFECTOS EN EL "GAP" DE SEMICONDUCTORES EN PELÍCULA DELGADA POR TÉCNICAS DE MODULACIÓN DE FOTOCONDUCTIVIDAD. ANALES AFA, [S. l.], v. 13, n. 1, 2013. Disponível em: https://anales.fisica.org.ar/index.php/analesafa/article/view/637. Acesso em: 16 dic. 2025.