DUSSAN, A.; SCHMIDT, J. A.; ARCE, R. D.; KOROPECKI, R. R.; BUITRAGO, R. H. SOBRE LA VALIDEZ DEL MÉTODO DE FOTOCONDUCTIVIDAD MODULADA EN EL RÉGIMEN DE RECOMBINACIÓN PARA EL CÁLCULO DE DENSIDAD DE ESTADOS DE DEFECTO EN SEMICONDUCTORES. ANALES AFA, [S. l.], v. 14, n. 1, 2013. Disponível em: https://anales.fisica.org.ar/index.php/analesafa/article/view/695. Acesso em: 15 dic. 2025.