[1]
A. Dussan, J. A. Schmidt, R. D. Arce, y R. R. Koropecki, «DETERMINACIÓN DE LA DENSIDAD DE DEFECTOS EN EL “GAP” DE SEMICONDUCTORES EN PELÍCULA DELGADA POR TÉCNICAS DE MODULACIÓN DE FOTOCONDUCTIVIDAD», AnAFA, vol. 13, n.º 1, abr. 2013.