Dussan, A., J. A. Schmidt, R. D. Arce, R. R. Koropecki, y R. H. Buitrago. «SOBRE LA VALIDEZ DEL MÉTODO DE FOTOCONDUCTIVIDAD MODULADA EN EL RÉGIMEN DE RECOMBINACIÓN PARA EL CÁLCULO DE DENSIDAD DE ESTADOS DE DEFECTO EN SEMICONDUCTORES». ANALES AFA 14, no. 1 (abril 18, 2013). Accedido diciembre 15, 2025. https://anales.fisica.org.ar/index.php/analesafa/article/view/695.