Dussan A, Schmidt JA, Arce RD, Koropecki RR, Buitrago RH. SOBRE LA VALIDEZ DEL MÉTODO DE FOTOCONDUCTIVIDAD MODULADA EN EL RÉGIMEN DE RECOMBINACIÓN PARA EL CÁLCULO DE DENSIDAD DE ESTADOS DE DEFECTO EN SEMICONDUCTORES. AnAFA [Internet]. 18 de abril de 2013 [citado 15 de diciembre de 2025];14(1). Disponible en: https://anales.fisica.org.ar/index.php/analesafa/article/view/695