DEPENDENCIA DEL GRADIENTE DE CAMPO ELÉCTRICO CON LA TEMPERATURA EN ÓXIDOS CON LA ESTRUCTURA BIXBITA

Autores/as

  • J. Shitu Facultad de Ciencias Exactas, Universidad Nacional de La Plata.
  • A. F. Pasquevich Facultad de Ciencias Exactas, Universidad Nacional de La Plata.

Resumen

Se presenta un primer informe sobre un estudio realizado para determinar la dependencia del Gradiente de Campo Eléctrico con la Temperatura en óxidos binarios con la estructura bixbita, utilizando como método experimental las Correlaciones Angulares Perturbadas.

Biografía del autor/a

J. Shitu, Facultad de Ciencias Exactas, Universidad Nacional de La Plata.

Departamento de Física.

A. F. Pasquevich, Facultad de Ciencias Exactas, Universidad Nacional de La Plata.

Departamento de Física.

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Publicado

2013-08-30