INTERACCIÓN DE IONES CON SUPERFICIES DE PELÍCULAS AISLANTES: EMISIÓN ELECTRÓNICA

Autores/as

  • G. Otero Instituto Balseiro, Universidad Nacional de Cuyo - Centro Atómico Bariloche, Comisión Nacional de Energía Atómica
  • N. Tognalli Instituto Balseiro, Universidad Nacional de Cuyo - Centro Atómico Bariloche, Comisión Nacional de Energía Atómica
  • E. A. Sánchez Instituto Balseiro, Universidad Nacional de Cuyo - Centro Atómico Bariloche, Comisión Nacional de Energía Atómica - CONICET
  • O. Grizzi Instituto Balseiro, Universidad Nacional de Cuyo - Centro Atómico Bariloche, Comisión Nacional de Energía Atómica - CONICET
  • V. H. Ponce Instituto Balseiro, Universidad Nacional de Cuyo - Centro Atómico Bariloche, Comisión Nacional de Energía Atómica

Resumen

Se caracterizó el crecimiento de películas delgadas de fluoruro de aluminio (AlF3) sobre superficies conductoras (aluminio y cobre) por espectroscopía de electrones Auger inducida por bombardeo de electrones. Se observó que el crecimiento de las películas es capa por capa. Se estudió la emisión electrónica inducida por bombardeo rasante (α= 1°) de protones a energía intermedia (60 keV) en función del espesor de la película (desde submonocapas hasta ~200A). En particular, se centró la atención en los cambios observados en la distribución en energía de los electrones convoy, es decir, aquellos electrones que luego de la colisión con la superficie siguen al proyectil con velocidades similares. Se compararon estas distribuciones con las correspondientes a colisiones en fase gaseosa, discriminando de esta forma los efectos de los potenciales inducidos sobre la superficie, tanto para el caso del sustrato (conductor) como para el de la película aislante depositada.

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Publicado

2013-04-18