RESPUESTA ELÉCTRICA A LAS DEFORMACIONES- MECÁNICAS EN PELÍCULAS DELGADAS DEL CERMET CR-SIOX

Autores/as

  • M. I. Pascuet Universidad de Buenos Aires
  • E. Broitman Universidad de Buenos Aires
  • P. J. Alonso Universidad de Buenos Aires
  • R. Aragón Universidad de Buenos Aires
  • R. Zimmerman Universidad de Buenos Aires

Resumen

Se investigaron las propiedades eléctricas y el factor extensométrico de películas del cermet- Cr/SiOx en composiciones 50/50 y 70/30 % en peso, para evaluar su uso en dispositivos "strain gauge". Las películas fueron depositadas por evaporación "flash". Las estructuras y fases resultantes fueron caracterizadas por microscopía y difracción de electrones. Se estudió la influencia del espesor y la velocidad del depósito sobre la resistencia laminar, el coeficiente térmico de resistencia y el factor extensométrico. Los resultados son consistentes con un mecanismo de conducción mixto, con una componente metálica y otra por efecto túnel térmicamente activado, entre fases conductoras interconectadas y discretas, respectivamente.

Biografía del autor/a

M. I. Pascuet, Universidad de Buenos Aires

Laboratorio de Películas Delgadas, Departamento de Física, Facultad de Ingeniería

E. Broitman, Universidad de Buenos Aires

Laboratorio de Películas Delgadas, Departamento de Física, Facultad de Ingeniería

P. J. Alonso, Universidad de Buenos Aires

Laboratorio de Películas Delgadas, Departamento de Física, Facultad de Ingeniería

R. Aragón, Universidad de Buenos Aires

Laboratorio de Películas Delgadas, Departamento de Física, Facultad de Ingeniería

R. Zimmerman, Universidad de Buenos Aires

Laboratorio de Películas Delgadas, Departamento de Física, Facultad de Ingeniería

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Publicado

2013-08-25