MEDICIÓN DEL COEFICIENTE ELECTROÓPTICO r63 DE KDP, CON COMPONENTE PIEZOELÉCTRICA d36 , A TEMPERATURA AMBIENTE

Abstract

Se midió el coeficiente electroóptico r63 en el modo longitudinal de un monocristal KDP en una celda de Pockels, considerando corrección piezoóptica. El monocristal se obtuvo por el método de crecimiento por sobresaturación en solución acuosa, mediante el descenso de temperatura. Con un láser de He-Ne ( lo = 632, 8 nm) y pulsos amortiguados (t = RC = 130 ms) de alta tensión entre 5 y 8 kV, se obtuvo un valor de r63 = 9.6 10-12 m/V a una temperatura de 25°C. Este valor incluye un aumento del 7% debido a la contribución de las deformaciones mecánicas inducidas por efecto piezoeléctrico inverso (la frecuencia propia del cristal se estimó en 1 MHz).