APLICACIONES DE LA MICROSCOPÍA DE FUERZA ATÓMICA AL ESTUDIO DE SUPERFICIES UTILIZADAS EN EXPERIMENTOS DE INTERACCIÓN DE IONES CON LA MATERIA

Authors

  • E. A. Sánchez Centro Atómico Bariloche - Comisión Nacional de Energía Atómica
  • G. R. Gómez Centro Atómico Bariloche - Comisión Nacional de Energía Atómica
  • J. E. Gayone Centro Atómico Bariloche - Comisión Nacional de Energía Atómica
  • R. G. Pregliasco Centro Atómico Bariloche - Comisión Nacional de Energía Atómica
  • O. Grizz Centro Atómico Bariloche - Comisión Nacional de Energía Atómica

Abstract

Se utilizó el microscopio de fuerza atómica para estudiar la topografía de superficies conductoras, semiconductoras y aislantes empleadas en experimentos de interacción de iones con la materia. Se comprobó que los ciclos de recocido alternados con bombardeo rasante de Ar+ a 20 keV producen superficies de GaAs(110) y Al(111) más planas que la técnica convencional de preparación de muestras monocristalinas. Se comparan estos resultados con mediciones de dispersión de iones y de emisión de electrones Convoy por incidencia rasante de protones. Se midió también la rugosidad de láminas delgadas ( » 30 A) autosoportadas de Au empleadas en experimentos de frenamiento de iones en sólidos. Finalmente se muestran imágenes de daño producido por impacto de Cl+ a 49 MeV en superficies de mica.

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Published

2013-08-25

Issue

Vol. 7 No. 1 (1996): ANALES AFA - Volumen 7 No 1 - Bariloche

Section

Condensed Matter