DIFRACCIÓN Y ENFOQUE EN LA DISPERSIÓN ELÁSTICA DE ELECTRONES SOBRE Cu(001)

Abstract

Hemos medido la intensidad de electrones reflejados elásticamente sobre Cu(001) como función del ángulo polar de salida y de la energía cinética en el rango de 200-1500 eV. A bajas energías la distribución angular de los electrones presenta picos agudos debidos a la difracción de electrones lentos (LEED). Para E > 500 eV aparecen picos intensos en ángulos correspondientes a ejes cristalográficos principales. Interpretamos que estos picos son originados por el mismo efecto de enfoque que ocurre en la difracción de electrones Auger y fotoelectrones. La importancia de este resultado es que tanto la red recíproca como la red real se pueden explorar en el mismo experimento simplemente variando la energía de los electrones.